PL 
EN 
ES 
FR 
AR 
PT 
RU 
DE 
IT 
TR 
NL 
CS 
RO 
SK 
ZH 
JA 
KO 
ID 
NX-E1L | System kontroli rentgenowskiej elektroniki.
Maszyna NX-E1L służy do wykrywania półprzewodników, SMT, DIP, komponentów elektronicznych, IC, BGA, CSP i flip chipów. Posiada FPD o wysokiej rozdzielczości zapewniający wysokiej jakości obrazy do wykrywania defektów minimum 2um, wykorzystuje programowanie CNC do automatycznego pozycjonowania z wykrywaniem nachylenia 45 °, oferuje obrazowanie nawigacyjne w czasie rzeczywistym i ulepszanie HDR oraz zapewnia narzędzia pomiarowe, takie jak rozmiar, powierzchnia, kąt i krzywizna.
- Opis
Opis
Funkcje i cechy
Zróżnicowany zakres zastosowań ： Stosowany w półprzewodnikach, SMT, DIP, komponentach elektronicznych, IC, BGA, CSP, flip chipach w scenariuszach wykrywania promieniowania rentgenowskiego.
Wysoka rozdzielczość obrazowania: Wyposażony w FPD o wysokiej rozdzielczości w celu uzyskania wysokiej jakości obrazów, zdolnych do wykrywania wad tak małych jak 2um.
Precyzyjne automatyczne pozycjonowanie ： Posiada automatyczne pozycjonowanie programowania CNC, z małym kątem otwarcia (wykrywanie nachylenia 45 °) dla dokładnej kontroli.
Inteligentne ulepszanie obrazu: Obsługuje obrazowanie nawigacyjne w czasie rzeczywistym i posiada funkcję ulepszania obrazu HDR dla wyraźniejszej prezentacji wizualnej.
Wszechstronne narzędzia pomiarowe ： Zapewnia narzędzia pomiarowe dla rozmiaru, powierzchni, kąta i krzywizny, aby spełnić różnorodne potrzeby analizy wykrywania.
specyfikacja
Uwaga: Powyższe informacje stanowią jedynie ogólne opisy i charakterystyki, które mogą ulec zmianie wraz z postępem technologicznym i modernizacją sprzętu. modernizacji sprzętu. Konkretne parametry są przedmiotem ostatecznej umowy. | |||||
Pozycja | Model | NX-E3L | NX-E1L | ||
Lampa rentgenowska | Tube Style | Uszczelniona tuba | Uszczelniona tuba | ||
Napięcie lampy | 90 kv | 100 kv | |||
Prąd lampy | 0.2mA | 0,15 mA | |||
Ostrość rurki | 5um | 2um | |||
Tryb chłodzenia | Chłodzenie powietrzem | Chłodzenie powietrzem | |||
Geometryczny czas powiększenia | 125 (razy) | 300(razy) | |||
Kontrola ruchu System | Oś x | 1500 mm | Lampa rentgenowska | Axls x | 400 mm |
Oś Y | 500 mm | Oś Y | 450 mm | ||
Oś Z1 | 220 mm | Oś Z | 200 mm | ||
Oś Z2 | 250 mm | Oś R | Pochylenie 45 | ||
Płaski panel detektor | Rozmiar piksela | 85um | |||
Pixelmatrix | 1536*1536mm | ||||
Efektywny obszar obrazowania | 130*130mm | ||||
Rozdzielczość przestrzenna | 5.8lp /mm | ||||
Cyfry konwersji AD | 16bit | ||||
