

データ-trp-post-id='8382'>NX-E1L|電子機器X線検査装置</trp-post-container
NX-E1Lは、半導体、SMT、DIP、電子部品、IC、BGA、CSP、フリップチップのX線検出に対応します。最小2μmの欠陥を検出する高解像度FPDを搭載し、CNCプログラミングによる45°傾斜検出による自動位置決め、リアルタイムナビゲーションイメージングとHDRエンハンスメント、サイズ、面積、角度、曲率などの測定ツールを提供します。

NX-E1L|電子部品X線検査装置
- 説明
説明
機能と特徴
多様な応用範囲:半導体、SMT、DIP、電子部品、IC、BGA、CSP、フリップチップのX線検出シーンに適用。
高解像度イメージング:高解像度のFPDを搭載し、2μmの微細な欠陥も検出可能。
正確な自動位置決め:CNCプログラミングによる自動位置決めを採用し、開口角度が小さく(45°傾斜検出)、正確な検査が可能。
インテリジェント・イメージ・エンハンスメント:リアルタイム・ナビゲーション・イメージングをサポートし、HDRイメージ・エンハンスメント機能により、より鮮明な映像表現を実現。
包括的な測定ツール:サイズ、面積、角度、曲率の測定ツールを提供し、多様な検出分析ニーズに対応。
スペック
注:上記の情報は、一般的な説明と特性を示すものであり、技術の進歩や機器のアップグレードによって変更される可能性があります。 機器のアップグレードによって変更される可能性があります。具体的なパラメータは最終的な合意に従う。 | |||||
項目 | モデル | NX-E3L | NX-E1L | ||
X線管 | チューブ・スタイル | 密閉チューブ | 密閉チューブ | ||
管電圧 | 90kv | 100kv | |||
管電流 | 0.2mA | 0.15mA | |||
チューブ・フォーカス | 5um | 2um | |||
冷却モード | 空冷 | 空冷 | |||
幾何学的拡大時間 | 125(回) | 300(回) | |||
モーションコントロール システム | 軸x | 1500mm | X線管 | アックス x | 400mm |
Y軸 | 500mm | Y軸 | 450mm | ||
Z1軸 | 220mm | Z軸 | 200mm | ||
Z2軸 | 250mm | R軸 | 45°チルト | ||
フラットパネル 検出器 | ピクセルサイズ | 85um | |||
ピクセルマトリックス | 1536*1536mm | ||||
有効撮像エリア | 130*130mm | ||||
空間分解能 | 5.8lp /mm | ||||
AD変換桁数 | 16ビット |
