NX-EF | 电子 X 射线检测系统。

Name: NX-EF | 电子设备 X 射线检测系统 - Nectec
Price: 9999.00 USD
Availability: InStock

NX-EF 机器适用于检测电子元件的焊接缺陷。它能检测 PCB、SMT 组装、IC 封装、BGA（球栅阵列）、CSP（芯片级封装）、半导体和其他元件。凭借先进的技术，它能准确识别各种焊接问题，确保电子产品的质量和可靠性。

类别 PCB BGA X 射线

说明

功能和特点

X 射线管配置：采用密封管式 X 射线管，管电压为 90kv，管电流为 200uA，细节分辨率为 5 微米，采用空气冷却模式，几何放大时间为 125（倍）。

平板探测器规格平板探测器像素尺寸为 85 微米，像素矩阵为 15361536 毫米，有效成像面积为 130130 毫米，速度为 20 帧/秒，模数转换位数为 16 位。

运动控制能力：运动控制系统提供 340 毫米的 X 轴、330 毫米的 Y 轴和 300 毫米的 Z 轴，R 轴的夹具可旋转 360 度。
EXPB 001 产品信息 1

注：以上信息仅代表一般描述和特性，可能会随着技术进步和设备升级而发生变化。具体参数以最终协议为准。以上信息仅代表一般描述和特性，可能会随着技术进步和设备升级而发生变化。具体参数以最终协议为准。
项目	模型	NX-EF
X 射线管	管式	密封管
	电子管电压	90 千伏
	电子管电流	200uA
	详细决议	5um
	冷却模式	空气冷却
	几何放大时间	125（次）
平板探测器	像素大小	85um
	像素矩阵	1536*1536 毫米
	有效成像区域	130*130 毫米
	帧频	20
	AD 转换数字	16 位
运动控制系统	轴 X	340 毫米
	轴 Y	330 毫米
	Z 轴	300 毫米
	轴 R	夹具可 360 度旋转