نظام الفحص بالأشعة السينية للإلكترونيات NX-EF

NX-EF |نظام الفحص بالأشعة السينية للإلكترونيات</trp-post-container

Name: NX-EF | نظام فحص الإلكترونيات بالأشعة السينية - Nectec
Price: 9999.00 USD
Availability: InStock

تُستخدم ماكينة NX-EF للكشف عن عيوب اللحام في المكونات الإلكترونية. وهي قادرة على فحص ثنائي الفينيل متعدد الكلور، وتجميع SMT، وتعبئة الدوائر المتكاملة، و BGA (مصفوفة الشبكة الكروية)، و CSP (حزمة مقياس الرقاقة)، وأشباه الموصلات وغيرها من المكونات. بفضل تقنيته المتقدمة، يمكنه تحديد مشاكل اللحام المختلفة بدقة، مما يضمن جودة وموثوقية المنتجات الإلكترونية.

التصنيف: الأشعة السينية لثنائي الفينيل متعدد الكلور BGA

الوصف

الوصف

الوظائف والميزات

تكوين أنبوب الأشعة السينية ：يعتمد أنبوب الأشعة السينية الأنبوبي المختوم بنمط الأنبوب المختوم، بجهد أنبوبي 90 كيلو فولت وتيار أنبوبي 200uA، ودقة تفاصيل 5 ميكرومتر، ووضع تبريد الهواء، ووقت تكبير هندسي 125 (مرة).

مواصفات كاشف اللوحة المسطحة ：يتميز بكاشف لوحة مسطحة بحجم 85 ميكرومتر بكسل، ومصفوفة بكسل مقاس 15361536 مم، ومساحة تصوير فعالة 130130 مم، و20 إطارًا في الثانية، وأرقام تحويل AD 16 بت.

القدرة على التحكم في الحركة ：يوفر نظام التحكم في الحركة المحور X مقاس 340 مم، والمحور Y مقاس 330 مم، والمحور Z مقاس 300 مم، وتدور التَرْكِيبة 360 درجة للمحور R.
EXPBB 001 معلومات المنتج 1

المواصفات

ملاحظة: ：المعلومات الواردة أعلاه تمثل فقط الوصف العام والخصائص ，التي قد تتغير مع التقدم التكنولوجي وتحديثات المعدات. تخضع المعلمات المحددة للاتفاق النهائي. المعلومات المذكورة أعلاه تمثل فقط الوصف العام والخصائص ， التي قد تتغير مع التقدم التكنولوجي وتحديث المعدات. تخضع المعلمات المحددة للاتفاقية النهائية.
البند	الطراز	NX-EF
أنبوب الأشعة السينية	نمط الأنبوب	أنبوب محكم الإغلاق
	جهد الأنبوب	90 كيلو فولت
	تيار الأنبوب	200uA
	تفاصيل القرار	5 ميكرومتر
	وضع التبريد	تبريد الهواء
	زمن التكبير الهندسي	125 (مرة)
لوحة مسطحة كاشف	حجم البكسل	85 ميكرومتر
	مصفوفة بكسل	1536*1536 مم
	منطقة التصوير الفعالة	130*130 مم
	إطار في الثانية	20
	أرقام التحويل AD	16 بت
التحكم في الحركة نظام التحكم في الحركة	المحور X	340 مم
	المحور Y	330 مم
	المحور Z	300 مم
	المحور R	يدور التركيب بزاوية 360 درجة