

NX-E3L | Sistema de Inspeção por Raios X de Eletrônicos
A máquina NX-E3L serve para detecção de raios X de semicondutores, SMT, DIP, componentes eletrônicos, IC, BGA, CSP e flip chip. Ela tem um FPD de alta resolução para imagens de alta qualidade para detectar defeitos mínimos de 2um, usa programação CNC para posicionamento automático com detecção de inclinação de 45°, oferece imagens de navegação em tempo real e aprimoramento de HDR e fornece ferramentas de medição como tamanho, área, ângulo e curvatura.

NX-E3L | Sistema de inspeção de eletrônicos por raios X
- Descrição
Descrição
Funções e recursos
Cobertura de diversos aplicativos:Aplicado em cenários de detecção de raios X de semicondutores, SMT, DIP, componentes eletrônicos, IC, BGA, CSP e flip chip.
Imagens de alta resolução:Equipado com FPD de alta resolução para obter imagens de alta qualidade, capaz de detectar defeitos tão pequenos quanto 2um.
Posicionamento automático preciso:Apresenta posicionamento automático de programação CNC, com pequeno ângulo de abertura (detecção de inclinação de 45°) para inspeção precisa.
Aprimoramento inteligente de imagens:Suporta imagens de navegação em tempo real e tem função de aprimoramento de imagem HDR para uma apresentação visual mais clara.
Ferramentas de medição abrangentes:Fornece ferramentas de medição de tamanho, área, ângulo e curvatura para atender a diversas necessidades de análise de detecção.
especificação
Observação: as informações acima representam apenas descrições e características gerais, que podem mudar com o avanço tecnológico e atualizações de equipamentos. atualizações de equipamentos. Os parâmetros específicos estão sujeitos ao acordo final. | ||
Item | Modelo | NX-E3L |
Tubo de raios X | Estilo de tubo | Tubo vedado |
Tensão do tubo | 90kv | |
Corrente do tubo | 0,2mA | |
Foco do tubo | 5um | |
Modo de resfriamento | Resfriamento a ar | |
Tempo de ampliação geométrica | 125 (vezes) | |
Controle de movimento Sistema de controle de movimento | Eixo x | 1500 mm |
Eixo Y | 500 mm | |
Eixo Z1 | 220 mm | |
Eixo Z2 | 250 mm | |
Painel plano Detector | Tamanho do pixel | 85um |
Pixelmatrix | 1536*1536mm | |
Área efetiva de geração de imagens | 130*130mm | |
Resolução espacial | 5,8lp /mm | |
Dígitos de conversão AD | 16 bits |
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