NX-E1L | 전자제품 엑스레이 검사 시스템

NX-E1L 머신은 반도체, SMT, DIP, 전자 부품, IC, BGA, CSP, 플립칩 X선 검출에 사용됩니다. 최소 2um 결함을 감지하는 고품질 이미지를 위한 고해상도 FPD, 45° 기울기 감지를 통한 자동 위치 지정, 실시간 내비게이션 이미징 및 HDR 향상, 크기, 면적, 각도, 곡률 등의 측정 툴을 제공하는 CNC 프로그래밍을 갖추고 있습니다.

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NX-E1L 전자제품 엑스레이 검사 시스템

NX-E1L | 전자제품 엑스레이 검사 시스템

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설명

기능 및 특징

다양한 애플리케이션 적용 범위: 반도체, SMT, DIP, 전자 부품, IC, BGA, CSP, 플립칩 X-선 검출 시나리오에 적용됩니다.
고해상도 이미징: 고해상도 FPD를 장착하여 2um의 작은 결함도 감지할 수 있는 고품질 이미지를 얻을 수 있습니다.
정밀한 자동 위치 지정: 정확한 검사를 위해 작은 개방 각도(45° 기울기 감지)로 CNC 프로그래밍 자동 위치 지정 기능을 제공합니다.
지능형 이미지 향상: 실시간 내비게이션 이미지를 지원하고 더욱 선명한 시각적 표현을 위한 HDR 이미지 향상 기능이 있습니다.
종합적인 측정 도구: 크기, 면적, 각도, 곡률에 대한 측정 도구를 제공하여 다양한 감지 분석 요구 사항을 충족합니다.
EXPB 001SSD 제품 정보 1

사양

참고: 위의 정보는 일반적인 설명과 특성만을 나타내며, 기술 발전 및 장비 업그레이드에 따라 변경될 수 있습니다. 장비 업그레이드. 구체적인 매개변수는 최종 계약에 따라 달라질 수 있습니다.

항목

모델

NX-E3L


NX-E1L

엑스레이 튜브

튜브 스타일

밀폐형 튜브


밀폐형 튜브

튜브 전압

90kv


100kv

튜브 전류

0.2mA


0.15mA

튜브 초점

5um


2um

냉각 모드

공기 냉각


공기 냉각

기하학적 확대 시간

125(횟수)


300(횟수)

모션 제어 시스템

축 x

1500mm

엑스레이 튜브

Axls x

400mm

축 Y

500mm

축 Y

450mm

Axis Z1

220mm

축 Z

200mm

Axis Z2

250mm

축 R

45° 기울기

평면 패널 검출기

픽셀 크기

85um

픽셀매트릭스

1536*1536mm

유효 이미징 영역

130*130mm

공간 해상도

5.8lp / mm

광고 전환 숫자

16비트

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