

NX-E3L | Sistema de inspección electrónica por rayos X
La máquina NX-E3L sirve para la detección por rayos X de semiconductores, SMT, DIP, componentes electrónicos, CI, BGA, CSP y flip chips. Dispone de un FPD de alta resolución para obtener imágenes de alta calidad y detectar defectos mínimos de 2um, utiliza programación CNC para el posicionamiento automático con detección de inclinación de 45°, ofrece imágenes de navegación en tiempo real y mejora HDR, y proporciona herramientas de medición como tamaño, área, ángulo y curvatura.

NX-E3L | Sistema de inspección por rayos X de componentes electrónicos
- Descripción
Descripción
Funciones y características
Cobertura de diversas aplicaciones:Aplicado en semiconductores, SMT, DIP, componentes electrónicos, IC, BGA, CSP, flip chip escenarios de detección de rayos X.
Imágenes de alta resolución:Equipado con FPD de alta resolución para obtener imágenes de alta calidad, capaz de detectar defectos tan pequeños como 2um.
Posicionamiento automático preciso:Dispone de programación CNC de posicionamiento automático, con pequeño ángulo de apertura (detección de inclinación de 45°) para una inspección precisa.
Mejora inteligente de la imagen:Admite imágenes de navegación en tiempo real y dispone de función de mejora de la imagen HDR para una presentación visual más nítida.
Herramientas de medición exhaustivas:Proporciona herramientas de medición de tamaño, área, ángulo y curvatura para satisfacer diversas necesidades de análisis de detección.
especificación
Nota: La información anterior sólo representa descripciones y características generales, que pueden cambiar con los avances tecnológicos y las actualizaciones de los equipos. actualizaciones de los equipos. Los parámetros específicos están sujetos al acuerdo final. | ||
Artículo | Modelo | NX-E3L |
Tubo de rayos X | Estilo tubo | Tubo sellado |
Tensión del tubo | 90 kv | |
Corriente del tubo | 0,2 mA | |
Enfoque del tubo | 5um | |
Modo refrigeración | Refrigeración por aire | |
Tiempo de ampliación geométrica | 125 (veces) | |
Control de movimiento Sistema | Eje x | 1500 mm |
Eje Y | 500 mm | |
Eje Z1 | 220 mm | |
Eje Z2 | 250 mm | |
Panel plano detector | Tamaño de píxel | 85um |
Pixelmatrix | 1536*1536mm | |
Área de imagen efectiva | 130*130mm | |
Resolución espacial | 5,8lp /mm | |
Dígitos de conversión AD | 16 bits |
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