NX-E1 | 电子 X 射线检测系统。

Name: NX-E1 | 电子设备 X 射线检测系统 - Nectec
Price: 9999.00 USD
Availability: InStock

NX-E1 设备专为检测电子元件的焊接缺陷而设计。它专门用于检测 PCB、SMT 组装、IC 封装、BGA、CSP、半导体等。它配备了一个密封的 X 射线管（90kV、200uA）和 85um 像素的 FPD，可实现 5um 的细节分辨率，用于精确的缺陷识别。

类别 PCB BGA X 射线

说明

功能和特点

X 射线管设置：使用与 FX100 相同的密封管式 X 射线管，管电压为 90kv，管电流为 200uA，细节分辨率为 5 微米，采用空气冷却模式，几何放大时间为 125（倍）。

平板探测器参数：平板探测器具有 85um 像素尺寸、15361536mm 像素矩阵、130130mm 有效成像区域、20 Fps 和 16 位 AD 转换位数，在这方面与 FX100 不相上下。

运动控制性能运动控制系统提供 400 毫米 X 轴、450 毫米 Y 轴、300 毫米 Z 轴，R 轴的样品台可正负 60 度旋转。
EXPB 002 产品信息 1

注：以上信息仅代表一般描述和特性，可能会随着技术进步和设备升级而发生变化。具体参数以最终协议为准。以上信息仅代表一般描述和特性，可能会随着技术进步和设备升级而发生变化。具体参数以最终协议为准。
项目	模型	NX-E1
X 射线管	管式	密封管
	电子管电压	90 千伏
	电子管电流	200uA
	详细决议	5um
	冷却模式	空气冷却
	几何放大时间	125（次）
平板探测器	像素大小	85um
	像素矩阵	1536*1536 毫米
	有效成像区域	130*130 毫米
	帧频	20
	AD 转换数字	16 位
运动控制系统	轴 X	400 毫米
	轴 Y	450 毫米
	Z 轴	300 毫米
	轴 R	样品台可正负 60 度旋转