データ-trp-post-id='8385'>NX-E3L｜電子機器X線検査装置</trp-post-container

NX-E3Lは、半導体、SMT、DIP、電子部品、IC、BGA、CSP、フリップチップのX線検出を行う装置です。最小2μmの欠陥を検出する高解像度FPDを搭載し、CNCプログラミングによる45°傾斜検出による自動位置決め、リアルタイムナビゲーションイメージングとHDRエンハンスメント、サイズ、面積、角度、曲率などの測定ツールを提供します。

カテゴリー PCB BGA X線

説明

説明

機能と特徴

多様なアプリケーションに対応半導体、SMT、DIP、電子部品、IC、BGA、CSP、フリップチップのX線検出シナリオに適用。

高解像度イメージング高解像度のFPDを搭載し、2μmの欠陥まで検出可能な高画質画像を実現。

正確な自動ポジショニングCNCプログラミングによる自動位置決め、小さな開口角（45°傾斜検出）による正確な検査が特徴。

インテリジェント・イメージ・エンハンスメントリアルタイムナビゲーションイメージングをサポートし、より鮮明なビジュアルプレゼンテーションのためのHDRイメージエンハンスメント機能を備えています。

総合測定ツールサイズ、面積、角度、曲率の測定ツールを提供し、多様な検出分析ニーズに対応。

スペック

注：上記の情報は、一般的な説明と特性を示すものであり、技術の進歩や機器のアップグレードによって変更される可能性があります。機器のアップグレードによって変更される可能性があります。具体的なパラメータは最終的な合意に従う。
項目	モデル	NX-E3L
X線管	チューブ・スタイル	密閉チューブ
	管電圧	90kv
	管電流	0.2mA
	チューブ・フォーカス	5um
	冷却モード	空冷
	幾何学的拡大時間	125（回）
モーションコントロールシステム	軸x	1500mm
	Y軸	500mm
	Z1軸	220mm
	Z2軸	250mm
フラットパネル検出器	ピクセルサイズ	85um
	ピクセルマトリックス	1536*1536mm
	有効撮像エリア	130*130mm
	空間分解能	5.8lp /mm
	AD変換桁数	16ビット