Sistem Inspeksi Sinar X Elektronik NX-E1

NX-E1 | Sistem Inspeksi Sinar X Elektronik

Mesin NX-E1 dirancang untuk mendeteksi cacat pengelasan pada komponen elektronik. Mesin ini mengkhususkan diri dalam memeriksa PCB, perakitan SMT, pengemasan IC, BGA, CSP, semikonduktor, dll. Dilengkapi dengan tabung sinar X yang disegel (90kV, 200uA) dan FPD 85um piksel, mesin ini mencapai resolusi detail 5um untuk identifikasi cacat yang tepat.

Kategori: PCB BGA Xray

Deskripsi

Deskripsi

Fungsi dan Fitur

Pengaturan Tabung Sinar-X: PengaturanMemanfaatkan tabung sinar X gaya tabung tertutup, sama seperti FX100 dengan tegangan tabung 90kv, arus tabung 200uA, resolusi detail 5um, mode pendingin udara, dan waktu pembesaran geometris 125 (kali).

Parameter Detektor Panel Datar: ParameterDetektor panel datar memiliki ukuran piksel 85um, matriks piksel 15361536mm, area pencitraan efektif 130130mm, 20 Fps, dan angka konversi AD 16bit, yang cocok dengan FX100 dalam aspek ini.

Performa Kontrol GerakSistem kontrol gerak menyediakan Sumbu X 400mm, Sumbu Y 450mm, Sumbu Z 300mm, dan meja sampel berputar plus atau minus 60 derajat untuk Sumbu R.
EXPB 002 Info produk 1

spesifikasi

Catatan：Informasi di atas hanya merupakan gambaran dan karakteristik umum, yang dapat berubah seiring dengan kemajuan teknologi dan peningkatan peralatan. Parameter spesifik tunduk pada kesepakatan akhir. Informasi di atas hanya merupakan deskripsi dan karakteristik umum, yang dapat berubah seiring dengan kemajuan teknologi dan peningkatan peralatan. Parameter spesifik tunduk pada perjanjian akhir.
Item	Model	NX-E1
Tabung Sinar-X	Gaya Tabung	Tabung tertutup
	Tegangan tabung	90kv
	Arus tabung	200uA
	Resolusi detail	5um
	Mode pendinginan	Pendinginan Udara
	Waktu pembesaran geometris	125 (kali)
Panel datar detektor	Ukuran piksel	85um
	Matriks piksel	1536 * 1536mm
	Area pencitraan yang efektif	130 * 130mm
	Fps	20
	Angka konversi iklan	16bit
Kontrol Gerakan Sistem	Sumbu X	400mm
	Sumbu Y	450mm
	Sumbu Z	300mm
	Sumbu R	Tabel sampel berputar plus atau minus 60 derajat