Sistem Inspeksi Sinar X Elektronik NX-EF

NX-EF | Sistem Inspeksi Sinar-X Elektronik

Mesin NX-EF digunakan untuk mendeteksi cacat pengelasan pada komponen elektronik. Mesin ini mampu memeriksa PCB, perakitan SMT, pengemasan IC, BGA (Ball Grid Array), CSP (Chip Scale Package), semikonduktor, dan komponen lainnya. Dengan teknologi canggihnya, alat ini dapat secara akurat mengidentifikasi berbagai masalah pengelasan, memastikan kualitas dan keandalan produk elektronik.

Kategori: PCB BGA Xray

Deskripsi

Deskripsi

Fungsi dan Fitur

Konfigurasi Tabung X-Ray: Konfigurasi Tabung X-RayMengadopsi tabung sinar X gaya tabung tertutup, dengan tegangan tabung 90kv, arus tabung 200uA, resolusi detail 5um, mode pendinginan udara, dan waktu pembesaran geometris 125 (kali).

Spesifikasi Detektor Panel Datar: SpesifikasiDilengkapi detektor panel datar dengan ukuran piksel 85um, matriks piksel 15361536mm, area pencitraan efektif 130130mm, 20 Fps, dan digit konversi AD 16bit.

Kemampuan Kontrol Gerak: Kemampuan Kontrol GerakSistem kontrol gerak menawarkan Sumbu X 340mm, Sumbu Y 330mm, Sumbu Z 300mm, dan perlengkapan berputar 360 derajat untuk Sumbu R.
EXPB 001 Info produk 1

spesifikasi

Catatan：Informasi di atas hanya merupakan gambaran dan karakteristik umum, yang dapat berubah seiring dengan kemajuan teknologi dan peningkatan peralatan. Parameter spesifik tunduk pada kesepakatan akhir. Informasi di atas hanya merupakan deskripsi dan karakteristik umum, yang dapat berubah seiring dengan kemajuan teknologi dan peningkatan peralatan. Parameter spesifik tunduk pada perjanjian akhir.
Item	Model	NX-EF
Tabung Sinar-X	Gaya Tabung	Tabung tertutup
	Tegangan tabung	90kv
	Arus tabung	200uA
	Resolusi detail	5um
	Mode pendinginan	Pendinginan Udara
	Waktu pembesaran geometris	125 (kali)
Panel datar detektor	Ukuran piksel	85um
	Matriks piksel	1536 * 1536mm
	Area pencitraan yang efektif	130 * 130mm
	Fps	20
	Angka konversi iklan	16bit
Kontrol Gerakan Sistem	Sumbu X	340mm
	Sumbu Y	330mm
	Sumbu Z	300mm
	Sumbu R	Perlengkapan berputar 360 derajat